Etude du reseau de germes dans l'alliage CoPt equiatomique par microscopie electronique et diffraction optique

Acta Metallurgica ◽

10.1016/0001-6160(73)90063-1 ◽

1973 ◽

Vol 21 (5) ◽

pp. 559-570 ◽

Author(s):

Ph Eurin ◽

J.M Penisson ◽

A Bourret

Keyword(s):

Microscopie Électronique ◽

Diffraction Optique

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Contribution à l'étude des dimensions des macromolécules rigides. Comparaison des résultats de la microscopie électronique et des lois hydrodynamiques

Journal de Chimie Physique ◽

10.1051/jcp/1953500380 ◽

1953 ◽

Vol 50 ◽

pp. 380-389 ◽

Author(s):

J. B. Donnet

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Contribution à l'étude des dimensions des macromolécules rigides. Comparaison des résultats de la microscopie électronique et des lois hydrodynamiques

Journal de Chimie Physique ◽

10.1051/jcp/1953500301 ◽

1953 ◽

Vol 50 ◽

pp. 301-307

Author(s):

J. B. Donnet

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Caractérisation du carbure de silicium par les techniques de la spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons (EELS) en microscopie électronique par transmission

Journal de Chimie Physique ◽

10.1051/jcp/1991882335 ◽

1991 ◽

Vol 88 ◽

pp. 2335-2340

Author(s):

K Hssein ◽

J Sevely ◽

G Zanchi ◽

Y Kihn

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Etude en microscopie électronique de particules submicroniques de nickel obtenues par réduction en milieu organique : influence des conditions de préparation sur la dimension des particules

Journal de Chimie Physique ◽

10.1051/jcp/1988850669 ◽

1988 ◽

Vol 85 ◽

pp. 669-674 ◽

Author(s):

P. Alphonse ◽

M. Brieu ◽

M. Gillet ◽

P. Mauret

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Défauts dans des phases lamellaires lyotropes observés par cryofracture et microscopie électronique

Journal de Physique ◽

10.1051/jphys:01985004602022500 ◽

1985 ◽

Vol 46 (2) ◽

pp. 225-234 ◽

Author(s):

M. Allain

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Calcul de l'influence des diffusions inélastiques sur le contraste des images de défauts d'empilement en microscopie électronique

Journal de Physique ◽

10.1051/jphys:01979004005048900 ◽

1979 ◽

Vol 40 (5) ◽

pp. 489-494 ◽

Author(s):

H. Peyre ◽

P. Duval ◽

L. Henry

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE CONVENTIONNELLE EN TRANSMISSION DES DISLOCATIONS INTERGRANULAIRES INTRINSEQUES

Le Journal de Physique Colloques ◽

10.1051/jphyscol:1982610 ◽

1982 ◽

Vol 43 (C6) ◽

pp. C6-93-C6-102 ◽

Author(s):

J. J. Bacmann

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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ÉTUDE PAR MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE ET SPECTROMÉTRIE AUGER DE RUPTURES FRAGILES DU TUNGSTÈNE

Le Journal de Physique Colloques ◽

10.1051/jphyscol:1984283 ◽

1984 ◽

Vol 45 (C2) ◽

pp. C2-367-C2-370

Author(s):

Tran Huu Loi ◽

E. Lhuire ◽

J. P. Morniroli ◽

M. Gantois

Keyword(s):

Microscopie Électronique ◽

Microscopie Électronique À Balayage

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Méthodes et résultats de la Microscopie électronique appliquée à la métallographie

Revue de Métallurgie ◽

10.1051/metal/194340100301 ◽

1943 ◽

Vol 40 (10) ◽

pp. 301-309

Author(s):

Edith Semmler-Alter

Keyword(s):

Microscopie Électronique

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Couche mince de silice dopée en nanocristaux de CDS Microscopie électronique en transmission à haute résolution, microanalyse

Revue de Métallurgie ◽

10.1051/metal/199390091204 ◽

1993 ◽

Vol 90 (9) ◽

pp. 1204-1204

Author(s):

Y. Wang ◽

M. Gandais ◽

A.I. Ekimov

Keyword(s):

Microscopie Électronique ◽

Haute Résolution ◽

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