Layer-by-Layer Analysis of the Thickness Distribution of Silicon Dioxide in the Structure SiO2/Si(111) by Inelastic Electron Scattering Cross-Section Spectroscopy

2016 ◽  
Vol 50 (3) ◽  
pp. 339-344
Author(s):  
A. S. Parshin ◽  
S. A. Kushchenkov ◽  
O. P. Pchelyakov ◽  
Yu. L. Mikhlin
Author(s):  
A. Yu. Igumenov ◽  
A. S. Parshin ◽  
V. O. Kanzychakova ◽  
A. M. Demin ◽  
T. A. Andryushchenko ◽  
...  

2015 ◽  
Vol 49 (4) ◽  
pp. 423-427 ◽  
Author(s):  
A. S. Parshin ◽  
A. Yu. Igumenov ◽  
Yu. L. Mikhlin ◽  
O. P. Pchelyakov ◽  
A. I. Nikiforov ◽  
...  

2014 ◽  
Vol 48 (2) ◽  
pp. 224-227 ◽  
Author(s):  
A. S. Parshin ◽  
E. P. P’yanovskaya ◽  
O. P. Pchelyakov ◽  
Yu. L. Mikhlin ◽  
A. I. Nikiforov ◽  
...  

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document