La micro-empreinte Baumann à haute résolution pour la mise en évidence de microségrégations de soufre à l’échelle de la microscopie électronique

1978 ◽  
Vol 75 (11) ◽  
pp. 627-632 ◽  
Author(s):  
G. Moulin ◽  
J. Ovejero Garcia ◽  
C. Haut ◽  
M. Aucouturier ◽  
M. Dadian
Keyword(s):  
Microscopie Électronique ◽  
Haute Résolution

Dislocation des macles observées en microscopie électronique à haute résolution

1976 ◽  
Vol 33 (1) ◽  
pp. K9-K13 ◽  
Author(s):  
G. Schiffmacher ◽  
P. E. Caro ◽  
C. Boulesteix
Keyword(s):  
Microscopie Électronique ◽  
Haute Résolution

Etude par diffraction es rayons x et microscopie electronique a haute resolution de quelques composes d'insertion graphite-chlorure metallique

1983 ◽  
Vol 7 (3-4) ◽  
pp. 313-318 ◽  
Author(s):  
C. Hauw ◽  
J. Gaultier ◽  
S. Flandrois ◽  
O. Gonzalez ◽  
D. Dorignac ◽  
...  
Keyword(s):  
Microscopie Électronique ◽  
Haute Résolution
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