Photoelectron diffraction for probing valency and magnetism of
4f
-based materials: A view on valence-fluctuating
EuIr2Si2
D. Yu. Usachov
◽
A. V. Tarasov
◽
S. Schulz
◽
K. A. Bokai
◽
I. I. Tupitsyn
◽
...
1983 ◽
Vol 51
(4)
◽
pp. 272-275
◽
J. J. Barton
◽
C. C. Bahr
◽
Z. Hussain
◽
S. W. Robey
◽
J. G. Tobin
◽
...
1993 ◽
Vol 68
(4)
◽
pp. 575-582
◽
M. Diani
◽
J.L. Bischoff
◽
L. Kubler
◽
D. Bolmont
2007 ◽
Vol 156-158
◽
pp. 92-96
◽
C.R. Flüchter
◽
A. de Siervo
◽
D. Weier
◽
M. Schürmann
◽
U. Berges
◽
...
1999 ◽
Vol 75
(11)
◽
pp. 1550-1552
◽
Th. Pillo
◽
J. Hayoz
◽
P. Schwaller
◽
H. Berger
◽
P. Aebi
◽
...
1998 ◽
Vol 57
(24)
◽
pp. 15476-15486
◽
Huasheng Wu
◽
C. Y. Ng
◽
T. P. Chu
◽
S. Y. Tong
1994 ◽
Vol 222
(4)
◽
pp. 349-352
◽
M. Galeotti
◽
A. Atrei
◽
U. Bardi
◽
G. Rovida
◽
M. Torrini
◽
...
1993 ◽
Vol 281
(3)
◽
pp. 178-179
T.T. Tran
◽
S. Thevuthasan
◽
Y.J. Kim
◽
D.J. Friedman
◽
A.P. Kaduwela
◽
...
1989 ◽
Vol 69
(11)
◽
pp. 1015-1018
◽
D. Chauveau
◽
C. Guillot
◽
B. Villette
◽
J. Lecante
◽
M.C. Desjonquères
◽
...
2000 ◽
Vol 62
(3)
◽
pp. 1635-1638
◽
M. E. Dávila
◽
S. L. Molodtsov
◽
M. C. Asensio
◽
C. Laubschat
1994 ◽
Vol 50
(10)
◽
pp. 6774-6778
◽
G. D. Waddill
◽
J. G. Tobin
◽
X. Guo
◽
S. Y. Tong