Locating the Frequency of Turnover in Thin-Film Diffusion Impedance
Mathijs Janssen
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Juan Bisquert
Y. Kuru
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J. Chakraborty
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U. Welzel
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M. Wohlschlögel
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Eric J. Mittemeijer
Joo Youl Huh
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Jong Pa Hong
1995 ◽
Vol 78
(7)
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pp. 4438-4443
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Xiang Gui
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Loran J. Friedrich
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Steven K. Dew
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Michael J. Brett
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Tom Smy
1995 ◽
Vol 13
(5)
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pp. 2100
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1975 ◽
Vol 28
(2)
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pp. 337-344
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A. Wagendristel
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H. Bangert
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E. Semerad
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P. Skalicky
1988 ◽
Vol 164
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pp. 417-428
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N. Kumar
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K. Pourrezaei
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B. Lee
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E.C. Douglas
1988 ◽
Vol 158
(1)
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pp. 45-50
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Hwa-Yueh Yang
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X.-A. Zhao
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M.-A. Nicolet
1988 ◽
Vol 164
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pp. 33-36
S.K. Sharma
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S. Banerjee
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Kuldeep
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Animesh K. Jain
1982 ◽
Vol 41
(8)
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pp. 724-726
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