Energy-filtered Photoelectron Emission Microscopy (EF-PEEM) for imaging nanoelectronic materials
Olivier Renault
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Amal Chabli
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David G. Seiler
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Alain C. Diebold
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Robert McDonald
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2013 ◽
Vol 130
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pp. 94-100
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N. Barrett
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K. Winkler
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B. Krömker
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E.H. Conrad
2009 ◽
Vol 170
(1-3)
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pp. 13-18
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L. Gregoratti
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T.O. Mentes
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A. Locatelli
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M. Kiskinova
2007 ◽
Vol 83
(3)
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pp. 692-697
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Jacob Garguilo
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Lian Hong
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Glenn S. Edwards
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Robert J. Nemanich
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John D. Simon
2013 ◽
Vol 186
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pp. 30-38
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Maylis Lavayssière
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Matthias Escher
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Olivier Renault
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Denis Mariolle
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Nicholas Barrett
O. Renault
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A. Bailly
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P. Gentile
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N. Pauc
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T. Baron
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1991 ◽
Vol 4
(4)
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pp. 29-34
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2020 ◽
Vol 174
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pp. 108841
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M. Långberg
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F. Zhang
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E. Grånäs
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C. Örnek
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J. Cheng
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2002 ◽
Vol 73
(3)
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pp. 1224-1228
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S. A. Nepijko
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N. N. Sedov
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H. Ohldag
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E. Kisker
2011 ◽
Vol 266
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pp. 012095
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Masato Kotsugi
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Masaki Mizuguchi
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Shigeki Sekiya
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Takuo Ohkouchi
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Takayuki Kojima
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2006 ◽
Vol 88
(17)
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pp. 179902
Gang Xiong
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Alan G. Joly
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Kenneth M. Beck
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Wayne P. Hess
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Mingdong Cai
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