Robust Formation of Skyrmions and Topological Hall Effect Anomaly in Epitaxial Thin Films of MnSi
Yufan Li
◽
N. Kanazawa
◽
X. Z. Yu
◽
A. Tsukazaki
◽
M. Kawasaki
◽
...
S. Chakraverty
◽
T. Matsuda
◽
H. Wadati
◽
J. Okamoto
◽
Y. Yamasaki
◽
...
T. L. Monchesky
◽
J. C. Loudon
◽
M. D. Robertson
◽
A. N. Bogdanov
Y. Ohuchi
◽
Y. Kozuka
◽
M. Uchida
◽
K. Ueno
◽
A. Tsukazaki
◽
...
Steven S.-L. Zhang
◽
Olle Heinonen
2011 ◽
Vol 98
(8)
◽
pp. 082116
◽
T. Yamasaki
◽
K. Ueno
◽
A. Tsukazaki
◽
T. Fukumura
◽
M. Kawasaki
S. Sangiao
◽
L. Morellon
◽
G. Simon
◽
J. M. De Teresa
◽
J. A. Pardo
◽
...
2014 ◽
Vol 312
◽
pp. 43-49
◽
A. Maeda
◽
F. Nabeshima
◽
H. Takahashi
◽
T. Okada
◽
Y. Imai
◽
...
2007 ◽
Vol 101
(9)
◽
pp. 09J507
◽
Y. Bason
◽
L. Klein
◽
H. Q. Wang
◽
J. Hoffman
◽
X. Hong
◽
...
1999 ◽
Vol 85
(8)
◽
pp. 5585-5587
◽
X. W. Li
◽
A. Gupta
◽
T. R. McGuire
◽
P. R. Duncombe
◽
Gang Xiao
Peter Swekis
◽
Anastasios Markou
◽
Dominik Kriegner
◽
Jacob Gayles
◽
Richard Schlitz
◽
...