Hydrodynamic Potential-Modulated Reflectance Spectroscopy:  Theory and Experiment

2001 ◽  
Vol 73 (10) ◽  
pp. 2282-2287
Author(s):  
R. L. Wang ◽  
L. M. Peter ◽  
F. L. Qiu ◽  
A. C. Fisher
Author(s):  
Gertrude F. Rempfer

I became involved in electron optics in early 1945, when my husband Robert and I were hired by the Farrand Optical Company. My husband had a mathematics Ph.D.; my degree was in physics. My main responsibilities were connected with the development of an electrostatic electron microscope. Fortunately, my thesis research on thermionic and field emission, in the late 1930s under the direction of Professor Joseph E. Henderson at the University of Washington, provided a foundation for dealing with electron beams, high vacuum, and high voltage.At the Farrand Company my co-workers and I used an electron-optical bench to carry out an extensive series of tests on three-electrode electrostatic lenses, as a function of geometrical and voltage parameters. Our studies enabled us to select optimum designs for the lenses in the electron microscope. We early on discovered that, in general, electron lenses are not “thin” lenses, and that aberrations of focal point and aberrations of focal length are not the same. I found electron optics to be an intriguing blend of theory and experiment. A laboratory version of the electron microscope was built and tested, and a report was given at the December 1947 EMSA meeting. The micrograph in fig. 1 is one of several which were presented at the meeting. This micrograph also appeared on the cover of the January 1949 issue of Journal of Applied Physics. These were exciting times in electron microscopy; it seemed that almost everything that happened was new. Our opportunities to publish were limited to patents because Mr. Farrand envisaged a commercial instrument. Regrettably, a commercial version of our laboratory microscope was not produced.


1978 ◽  
Vol 39 (12) ◽  
pp. 1355-1363 ◽  
Author(s):  
L.G. Caron ◽  
M. Miljak ◽  
D. Jerome

1986 ◽  
Vol 150 (10) ◽  
pp. 321
Author(s):  
V.L. Dunin-Barkovskii

2012 ◽  
Vol 61 (2) ◽  
pp. 277-290 ◽  
Author(s):  
Ádám Csorba ◽  
Vince Láng ◽  
László Fenyvesi ◽  
Erika Michéli

Napjainkban egyre nagyobb igény mutatkozik olyan technológiák és módszerek kidolgozására és alkalmazására, melyek lehetővé teszik a gyors, költséghatékony és környezetbarát talajadat-felvételezést és kiértékelést. Ezeknek az igényeknek felel meg a reflektancia spektroszkópia, mely az elektromágneses spektrum látható (VIS) és közeli infravörös (NIR) tartományában (350–2500 nm) végzett reflektancia-mérésekre épül. Figyelembe véve, hogy a talajokról felvett reflektancia spektrum információban nagyon gazdag, és a vizsgált tartományban számos talajalkotó rendelkezik karakterisztikus spektrális „ujjlenyomattal”, egyetlen görbéből lehetővé válik nagyszámú, kulcsfontosságú talajparaméter egyidejű meghatározása. Dolgozatunkban, a reflektancia spektroszkópia alapjaira helyezett, a talajok ösz-szetételének meghatározását célzó módszertani fejlesztés első lépéseit mutatjuk be. Munkánk során talajok szervesszén- és CaCO3-tartalmának megbecslését lehetővé tévő többváltozós matematikai-statisztikai módszerekre (részleges legkisebb négyzetek módszere, partial least squares regression – PLSR) épülő prediktív modellek létrehozását és tesztelését végeztük el. A létrehozott modellek tesztelése során megállapítottuk, hogy az eljárás mindkét talajparaméter esetében magas R2értéket [R2(szerves szén) = 0,815; R2(CaCO3) = 0,907] adott. A becslés pontosságát jelző közepes négyzetes eltérés (root mean squared error – RMSE) érték mindkét paraméter esetében közepesnek mondható [RMSE (szerves szén) = 0,467; RMSE (CaCO3) = 3,508], mely a reflektancia mérési előírások standardizálásával jelentősen javítható. Vizsgálataink alapján arra a következtetésre jutottunk, hogy a reflektancia spektroszkópia és a többváltozós kemometriai eljárások együttes alkalmazásával, gyors és költséghatékony adatfelvételezési és -értékelési módszerhez juthatunk.


Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document