Service Time Analysis of Go-Back-N ARQ Protocol

Author(s):  
Fayza A. Nada
Keyword(s):  
2008 ◽  
Vol 7 (10) ◽  
pp. 3988-3998 ◽  
Author(s):  
Hai Jiang ◽  
Ping Wang ◽  
Weihua Zhuang ◽  
H.V. Poor

TecnoLógicas ◽  
2014 ◽  
Vol 17 (33) ◽  
pp. 43 ◽  
Author(s):  
Yurany A. Villada-Villada ◽  
Angelina Hormaza-Anaguano ◽  
Natalia Casis
Keyword(s):  

Este trabajo muestra la utilización de la cascarilla de arroz para la remoción del colorante catiónico azul de metileno bajo sistema continuo. Un diseño factorial 23, con puntos centrales y distribución aleatoria, fue implementado para evaluar la correlación de los factores experimentales en el proceso de adsorción. Las variables consideradas fueron pH, tamaño de partícula, presencia salina, velocidad de entrada, concentración inicial del colorante y altura de columna. Las muestras fueron analizadas a intervalos definidos de tiempo. La cantidad del colorante removido fue cuantificado por medio de espectroscopia Ultravioleta - Visible. Los modelos de Adams-Bohart, Thomas y BDST (Bed-depht/service time analysis) fueron utilizados para predecir las curvas de ruptura usando regresión no lineal y establecer los parámetros característicos del proceso. Se encontró que la transferencia de colorante al material adsorbente se favorece a pH básico, menor tamaño de partícula, flujo y concentración baja y mayor altura. El diseño de experimentos estableció que la concentración inicial de colorante y la altura del lecho fueron los factores más significativos. Con respecto a los modelos, el de Thomas presentó el mejor ajuste para la descripción de las curvas de ruptura a las condiciones experimentales y el de Adams-Bohart resultó adecuado para el comportamiento dinámico limitado a la parte inicial. Finalmente, el modelo BDST mostró una buena correlación y permitió establecer que la altura es determinante para el escalado del proceso.


IEEE Access ◽  
2018 ◽  
Vol 6 ◽  
pp. 73232-73244 ◽  
Author(s):  
Yan Han ◽  
Xiaofeng Tao ◽  
Xuefei Zhang ◽  
Sijia Jia
Keyword(s):  

Author(s):  
R.P. Goehner ◽  
W.T. Hatfield ◽  
Prakash Rao

Computer programs are now available in various laboratories for the indexing and simulation of transmission electron diffraction patterns. Although these programs address themselves to the solution of various aspects of the indexing and simulation process, the ultimate goal is to perform real time diffraction pattern analysis directly off of the imaging screen of the transmission electron microscope. The program to be described in this paper represents one step prior to real time analysis. It involves the combination of two programs, described in an earlier paper(l), into a single program for use on an interactive basis with a minicomputer. In our case, the minicomputer is an INTERDATA 70 equipped with a Tektronix 4010-1 graphical display terminal and hard copy unit.A simplified flow diagram of the combined program, written in Fortran IV, is shown in Figure 1. It consists of two programs INDEX and TEDP which index and simulate electron diffraction patterns respectively. The user has the option of choosing either the indexing or simulating aspects of the combined program.


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