Ballistic Electron Emission Microscopy onCoSi2/Si(111)Interfaces: Band Structure Induced Atomic-Scale Resolution and Role of Localized Surface States
1998 ◽
Vol 81
(22)
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pp. 4963-4966
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K. Reuter
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F. J. Garcia-Vidal
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P. L. de Andres
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F. Flores
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K. Heinz
1996 ◽
Vol T66
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pp. 282-286
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H Sirringhaus
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T Meyer
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E Y Lee
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H von Känel
1998 ◽
Vol 57
(7)
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pp. 4027-4032
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B. Kaczer
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H.-J. Im
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J. P. Pelz
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J. Chen
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W. J. Choyke
M. Kozhevnikov
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V. Narayanamurti
1998 ◽
Vol 264-268
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pp. 813-816
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Hyoung Jin Im
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B. Kaczer
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J.P. Pelz
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Jin Ming Chen
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Wolfgang J. Choyke
1995 ◽
Vol 74
(20)
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pp. 3999-4002
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H. Sirringhaus
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E. Y. Lee
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H. von Känel
1991 ◽
Vol 43
(11)
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pp. 9308-9311
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L. J. Schowalter
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E. Y. Lee
1999 ◽
Vol 75
(8)
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pp. 1128-1130
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M. Kozhevnikov
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V. Narayanamurti
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A. Mascarenhas
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Y. Zhang
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J. M. Olson
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1998 ◽
Vol 93
(2)
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pp. 281-287
P.L. de Andres
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K. Reuter
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F.J. Garcia-Vidal
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F. Flores
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U. Hohenester
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...
2000 ◽
Vol 61
(11)
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pp. 7161-7164
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M. K. Weilmeier
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W. H. Rippard
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R. A. Buhrman
1988 ◽
Vol 61
(20)
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pp. 2368-2371
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L. D. Bell
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W. J. Kaiser