Topical glaucoma therapy may increase postoperative failure rate

2022 ◽  
Vol 1889 (1) ◽  
pp. 12-12
2012 ◽  
Vol 18 (69) ◽  
pp. 237
Author(s):  
فاتن فاروق البدري ◽  
علا علي فرج

تهدف دراسة التوزيعات الإحصائية إلى الحصول على التوصيفات الأفضل لمجموعة المتغيرات والظواهر والتي كل منها يمكن أن يسلك سلوك واحد من هذه التوزيعات. وتعد دراسة عمليات التقدير لمعلمات هذه  التوزيعات من الأمور المهمة والتي لا غنى عنها في دراسة سلوك هذه المتغيرات ونتيجة لذلك جاء هذا البحث محاولة للوصول إلى أفضل طريقة تقدير معلمات توزيع هو واحد من أهم التوزيعات الإحصائية وهو التوزيع الخطي العام لمعدلات الفشل، (Generalized Linear Failure Rate Distribution) وذلك من خلال دراسة الجوانب النظرية بالاعتماد على طرق الاستدلال الإحصائي مثل طريقة الإمكان الأعظم وطريقة المربعات الصغرى وبالإضافة إلى الطريقة المختلطة(طريقة مقترحة) . وتضمن البحث إجراء المقارنات بين طرائق التقدير الثلاثة لمعلمات التوزيع الخطي العام لمعدلات الفشل (GLFRD)، بالاعتماد على مقياسين إحصائيين مهمين هما متوسط مربعات الخطأ (MSE)، ومتوسط الخطأ النسبي المطلق (MAPE)، للحصول على طريقة التقدير الأفضل.


Therapy ◽  
2004 ◽  
Vol 1 (1) ◽  
pp. 31-41
Author(s):  
Robert J Noecker ◽  
Melissa L Earl
Keyword(s):  

2012 ◽  
Vol 30 (1) ◽  
pp. 119-127
Author(s):  
Henryk Tomaszek ◽  
Ryszard Kaleta ◽  
Mariusz Zieja

The paper is an attempt to describe the forecast on the risk of damages resulting from failures to the means of transport. It has been assumed that the product of the probability of failure (fault) occurrence and measures of effects thereof are to be used to estimate the risk. The below presented dependences that describe the risk of damages have been based on the failure rate. With the available literature as the basis, a preliminary description of the probability of a failure (fault) and the level of losses has been proposed. The paper gives dependences on short- and long-range risk forecasts. To determine the relationship for the probability of a failure (fault), the failure rate has been used.


Author(s):  
Hide Murayama ◽  
Makoto Yamazaki ◽  
Shigeru Nakajima

Abstract Power bipolar devices with gold metallization experience high failure rates. The failures are characterized as shorts, detected during LSI testing at burn-in. Many of these shorted locations are the same for the failed devices. From a statistical lot analysis, it is found that the short failure rate is higher for devices with thinner interlayer dielectric films. Based upon these results, a new electromigration and electrochemical reaction mixed failure mechanism is proposed for the failure.


Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document