Atualmente, fontes de luz polarizada encontram diversas aplicações em dispositivos optoeletrônicos, “displays”, em testes de tensões em peças mecânicas e até em estudos de mineralogia. Uma das principais necessidades é determinar o estado de polarização (linear, circular, elíptico, ou uma sobreposição destes) do feixe luminoso. Para este fim, aplicamos neste trabalho a técnica de Elipsometria de Emissão para investigar os estados de polarização de diferentes fontes de luz. Esta técnica está baseada na teoria de Stokes e os tipos de polarização estão correlacionados aos parâmetros de Stokes. Realizamos medidas em feixes de luz proveniente de um LASER polarizado, um LASER polarizado passando por um defasador quarto de onda a ± 45° (polarização circular), um LED despolarizado e, esse mesmo LED, com sua luz refletida sobre uma placa de vidro em diversos ângulos e inclusive no ângulo de Brewster. A montagem experimental é composta de um defasador quarto de onda, um polarizador linear e um detector de luz. Os resultados obtidos apresentaram um desvio de aproximadamente 1% em relação à polarização conhecida das fontes de luz. Desta maneira, foi possível constatar que a técnica de Elipsometria de Emissão pode ser aplicada para se determinar a polarização da luz proveniente de fontes luminosas em geral.
Experimental determination of the Stokes parameters using a dual photoelastic modulator system