Non-destructive characterization of thin layer resonant tunneling diodes
2019 ◽
Vol 126
(12)
◽
pp. 124304
Răzvan Baba
◽
Kristof J. P. Jacobs
◽
Brett A. Harrison
◽
Ben J. Stevens
◽
Toshikazu Mukai
◽
...
F. Hartmann
◽
F. Langer
◽
D. Bisping
◽
A. Musterer
◽
S. Höfling
◽
...
1995 ◽
Vol 78
(11)
◽
pp. 6616-6625
◽
D. B. Janes
◽
K. J. Webb
◽
M. S. Carroll
◽
G. E. Starnes
◽
K. C. Huang
◽
...
1996 ◽
Vol 43
(2)
◽
pp. 332-341
◽
D.L. Woolard
◽
F.A. Buot
◽
D.L. Rhodes
◽
Xiaojia Lu
◽
B.S. Perlman
2002 ◽
Vol 81
(3)
◽
pp. 499-501
◽
A. I. Yakimov
◽
A. S. Derjabin
◽
L. V. Sokolov
◽
O. P. Pchelyakov
◽
A. V. Dvurechenskii
◽
...
Kotaro Aikawa
◽
Michihiko Suhara
◽
Kiyoto Asakawa
◽
Khaled Arzi
◽
Nils Weimann
◽
...
2006 ◽
Vol 45
(6B)
◽
pp. 5504-5508
◽
Michihiko Suhara
◽
Norihiko Matsuzaka
◽
Masakazu Fukumitsu
◽
Tsugunori Okumura
A.C. Seabaugh
◽
Y.-C. Kao
◽
H.-Y. Liu
◽
J.H. Luscombe
◽
H.-L. Tsai
◽
...
M. Fukumitsu
◽
H. Horie
◽
N. Asaoka
◽
M. Suhara
◽
T. Okumura
1991 ◽
Vol 58
(3)
◽
pp. 275-277
◽
J. R. Söderström
◽
E. R. Brown
◽
C. D. Parker
◽
L. J. Mahoney
◽
J. Y. Yao
◽
...