Total Dose and Dose Rate Radiation Characterization of EPI-CMOS Radiation Hardened Memory and Microprocessor Devices

1984 ◽  
Vol 31 (6) ◽  
pp. 1332-1336 ◽  
Author(s):  
B. L. Gingerich ◽  
J. M. Hermsen ◽  
J. C. Lee ◽  
J. E. Schroeder
1984 ◽  
Vol 31 (6) ◽  
pp. 1327-1331 ◽  
Author(s):  
J. E. Schroeder ◽  
B. L. Gingerich ◽  
G. R. Bechtel
Keyword(s):  

1990 ◽  
Vol 37 (6) ◽  
pp. 2089-2096 ◽  
Author(s):  
I. Yoshii ◽  
K. Hama ◽  
K. Maeguchi ◽  
S. Takatsuka ◽  
H. Hatano

2020 ◽  
Vol 96 (3s) ◽  
pp. 169-174
Author(s):  
Ю.М. Герасимов ◽  
Н.Г. Григорьев ◽  
А.В. Кобыляцкий ◽  
Я.Я. Петричкович

Рассматриваются архитектурные, схемотехнические и конструктивно-топологические особенности асинхронного радиационно стойкого ОЗУ 1657РУ2У емкостью 16 Мбит с организацией (1Мx16)/(2Mx8), изготавливаемого по коммерческой КМОП-технологии объемного кремния уровня 130 нм. СБИС ОЗУ нечувствительна к эффекту «защелкивания», имеет повышенные дозовую стойкость и сбоеустойчивость при воздействии отдельных ядерных частиц (ОЯЧ), протонов и нейтронов (ТЧ). The paper highlights architectural, schematic and topological features of the radiation hardened 16 Mbit CMOS SRAM with configurable organization 1Mx16/2Mx8, which is immune to latch-up and with improved total dose and heavy particles tolerance.


1992 ◽  
Vol 39 (3) ◽  
pp. 381-386 ◽  
Author(s):  
O. Coumar ◽  
R. Gaillard
Keyword(s):  

1994 ◽  
Vol 44 (1-2) ◽  
pp. 119-123 ◽  
Author(s):  
E. Amin ◽  
N. Ashoub ◽  
A. Elkady
Keyword(s):  

Author(s):  
Garry Berkovic ◽  
Shlomi Zilberman ◽  
Ehud Shafir ◽  
Yosef London ◽  
M. Dadon ◽  
...  

2020 ◽  
Vol 47 (5) ◽  
pp. 2242-2253 ◽  
Author(s):  
Samuel Ruiz‐Arrebola ◽  
Rosa Fabregat‐Borrás ◽  
Eduardo Rodríguez ◽  
Manuel Fernández‐Montes ◽  
Mercedes Pérez‐Macho ◽  
...  

Author(s):  
Geraldine Chaumont ◽  
Benoit Cornanguer ◽  
Patrick Briand ◽  
Christophe Prugne ◽  
Florence Malou

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document