PREPARATION OF XEROGEL OF SILICON DIOXIDE BY ACID HYDROLYSIS OF TETRAETHOXYSILANE AND STUDY INTO ITS SORPTION PROPERTIES
Из тетраэтоксисилана (ТЭОС) методом кислотного гидролиза был синтезирован ксерогель диоксида кремния и исследована его адсорбционная способность по отношению к ионам Cu2+. Изучено элементный состав и морфология полученного образца ксерогеля. Рентгенофазовым анализом и сканирующей электронной микроскопии показана высокопористая структура и чистота полученного ксерогеля. Адсорбционные свойства образца ксерогеля по отношению к ионам Cu2+ изучены на модельных медьсодержащих растворах. Исследовано влияние рН, времени контакта адсорбента с адсорбатом и температуры на адсорбционные характеристики ксерогеля. Показано, что оптимальными значениями для извлечения ионов Cu2+ являются рН 4-8 и температура не выше 40оС. С ростом температуры на градус в диапазоне температур 20о- 40оС, степень адсорбции ионов Сu2+ на ксерогеле диоксида кремния увеличивается в среднем на 0.45 % . Максимальная адсорбционная емкость ионов Cu2+ при оптимальных условиях, составила 67.5 мг/г. При повышении концентрации и увеличении времени сорбции степень извлечения ионов возрастает, что находится в соответствии с изотермой сорбции Ленгмюра.