ОСОБЕННОСТИ ЭКСТРАКЦИИ SPICE-МОДЕЛЕЙ ТРАНЗИСТОРОВ ДЛЯ ТЕХНОЛОГИЙ КНИ ГЛУБОКОГО СУБМИКРОННОГО УРОВНЯ
Keyword(s):
Разработаны тестовые структуры для экстракции и верификации статических и динамических параметров SPICE-моделей транзисторов. Проведена экстракция SPICE-моделей МОП-транзисторов А-типа в рамках разработки комплекта средств проектирования для технологии КНИ-180. Проведена верификация статических и динамических параметров полученных моделей транзисторов. The paper highlights test structures for the extraction and verification of static and dynamic parameters of the transistor SPICE model. The SPICE models of A-type MOS transistors for development process design kit for S0I180 technology have been extracted. Verification of static and dynamic parameters of the obtained transistor models has been carried out.
Keyword(s):
2015 ◽
Vol 770
◽
pp. 419-423
◽
Keyword(s):
2006 ◽
Vol 16
(6)
◽
pp. 600-606
◽
Keyword(s):
1989 ◽
Vol 15
(9)
◽
pp. 1025-1037
◽
Keyword(s):
2019 ◽
Vol 19
(4)
◽
2011 ◽
Vol 22
(10)
◽
pp. 689-699
◽
Keyword(s):