La aplicación de una estrategia computarizada para enseñar y aprender matemáticas en Educación Primaria

2008 ◽  
Vol 1 (1) ◽  
pp. 21 ◽  
Author(s):  
Paloma González-Castro ◽  
Luis Álvarez ◽  
José C Núñez ◽  
Julio A. González Pineda ◽  
David Álvarez
Keyword(s):  
On Line ◽  
Educación Primaria

El objetivo de este estudio es suministrar información en los efectos de la educación estratégica en el área de matemáticas en un nivel real, así como la competencia percibida en términos de habilidades, que los estudiantes muestran para seleccionar, organizar y producir información y sus actitudes y motivaciones hacia el trabajo en este área del currículo. 104 estudiantes participaron en este estudio, 57 de los cuales fueron el control del grupo y 47 los experimentales. Los profesores y estudiantes que participaron en esta experiencia, siguieron un curso on-line para manejar la estrategia del “hipertexto” durante tres meses aproximadamente. Los resultados mostraron que la educación estratégica implementada en este estudio, mejora ampliamente los procedimientos escritos y comprensivos, aumenta la competencia percibida de una información interna manejando y generando cambios positivos en términos de actitud y motivación de los estudiantes hacia el trabajo en el área de matemáticas.Palabras clave: Matemáticas, educación primaria, estrategias educativas

scholarly journals Percepción del alumnado del Grado de maestro de Educación Infantil y Primaria sobre las competencias transversales adquiridas durante su formación

2021 ◽  
Vol 25 (3) ◽  
pp. 219-238
Author(s):  
Cristina Santana Ardila ◽  
María Teresa Becerra Traver ◽  
Susana Sánchez Herrera
Keyword(s):  
Educación Superior ◽  
Educacion Superior ◽  
On Line ◽  
Educación Primaria ◽  
Competencias Transversales

Con la llegada del Marco Europeo, la educación superior ha sufrido cambios, uno de ellos la introducción de las competencias transversales. Por ello, este trabajo pretende analizar la percepción que el alumnado de Educación Infantil y de Educación Primaria de la Universidad de Extremadura tiene con respecto a las competencias transversales adquiridas a lo largo de su formación como maestros. Para ello, partiendo de las propias competencias transversales que tienen que conseguir para la obtención de la titulación, se ha diseñado un cuestionario on-line en el que participaron 212 alumnos. Los resultados muestran que el alumnado en su gran mayoría tiene adquiridas las competencias, excepto la de lenguas extranjeras que es la que menos valoración tiene. Finalmente se extrae que el alumnado sí tiene, de forma general, adquiridas las competencias transversales, lo que supone una buena formación para los alumnos que en un futuro serán docentes.

scholarly journals Una lectura comparativa sobre el nivel de satisfacción laboral de los docentes venezolanos entre 1996 y 2018

2020 ◽  
Vol 22 (35) ◽  
Author(s):  
Tulio Ramírez ◽  
Dóris Lilia Torres Cruz
Keyword(s):  
On Line ◽  
Educación Primaria ◽  
Sobre Todo

El objetivo de esta investigación es comparar los niveles de satisfacción laboral de una muestra de docentes venezolanos de educación primaria y bachillerato del sector oficial, entre los años de 1996 y 2006. Originalidad: Se evidenciaron altos niveles de insatisfacción laboral en los siete factores que cargan la escala aplicada, cuyos resultados se compararon con los obtenidos entre 1996 y 2006 y se observó una profundización del estado de insatisfacción que hace 24 años ya se percibía, sobre todo en los factores extrínsecos al oficio, como remuneraciones, ambiente de trabajo y sus condiciones, así como con los beneficios. Método: se consideró la investigación de enfoque mixto, con la cual se utiliza la estrategia de la escala de satisfacción laboral, administrada de manera on line y construida desde la Teoría Bifactorial elaborada por Herzberg, Mausner y Snyderman en 1959. La conclusión resalta que los factores intrínsecos o motivadores que tienen que ver con la naturaleza misma del trabajo (reconocimiento de la labor, autonomía profesional y trabajo en sí mismo)presentan niveles de satisfacción muy por debajo de los encontrados en los estudios previos referidos.

scholarly journals ¿EXISTE EL BULLYING EN LA UNIVERSIDAD? APROXIMACIÓN A ESTA REALIDAD CON UNA MUESTRA ESPAÑOLA DE ESTUDIANTES DE GRADO

2020 ◽  
pp. 85-109
Author(s):  
Pilar Royo-García ◽  
Cristina Laorden Gutiérrez ◽  
Montserrat Giménez-Hernández ◽  
Cristina Serrano-García
Keyword(s):  
On Line ◽  
Educación Primaria ◽  
Estudiantes Universitarios

Este artículo analiza la incidencia y las características del bullying en una muestra de estudiantes universitarios en población española. La muestra es de 776 universitarios de cuatro titulaciones de grado relacionadas con educación y psicología (Educación Infantil, Educación Primaria, Educación Social y Psicología). Se utilizó el cuestionario EBIP-Q (Ortega-Ruiz, Del Rey y Casas, 2016) para evaluar la implicación del bullying, adaptándolo a un formato on line. También se evaluó la percepción del ambiente social del aula. Se utilizó una metodología cuantitativa. Se analizaron diferencias de porcentajes en la distribución de los roles de implicación en función del curso (χ2), diferencias de medias entre los roles en la percepción del ambiente social del aula (Anova) y los porcentajes de las formas de agresión y de victimización. Los resultados apuntan que existe el bullying en el contexto estudiado: el 12,4 % se considera víctima; el 5 %, agresores, y el 2,7 % agresor-victimizado, encontrando mayor porcentaje de bullying en los cursos superiores y más agresores entre los estudiantes de cuarto que de primero. Las formas más frecuentes de victimización son: ser insultado por otro indirectamente, ser excluido o ignorado, ser insultado directamente o ser el blanco de rumores. Las formas más frecuentes de agresión son: insultar a través de terceras personas o directamente, excluir o ignorar y difundir rumores. Las víctimas expresan menos bienestar en el aula que los agresores y los no implicados. Los resultados apuntan la necesidad de seguir avanzando para conocer las posibles dinámicas universitarias que pueden estar favoreciendo este tipo de relaciones.

scholarly journals Unha experiencia de adaptación metodolóxica á docencia virtual e as súas implicacións no seguimento por parte do alumnado

2021 ◽  
Author(s):  
Carlos Soneira
Keyword(s):  
On Line ◽  
Educación Primaria

Neste traballo expóñense os cambios metodolóxicos, incluíndo os relativos á avaliación e ás titorías levados a cabo na materia Educación Matemática 1, de 1º do grao en Educación Primaria para adaptar a docencia á modalidade virtual. Para as sesións asíncronas, graváronse vídeos explicativos sobre contidos teóricos aos que o alumnado podía acceder con antelación. As sesións síncronas dedicáronse principalmente a ilustrar a posta en práctica dos contidos teóricos expostos nos vídeos. Nelas os estudantes empregaron os recursos que ofrece Teams para se organizar en pequenos grupos dentro do grupo xeral, o que facilitou a interacción co docente. A avaliación foi continua, con varias probas síncronas individuais a través de Moodle e a realización dun traballo por grupos. As titorías realizáronse vía Teams e cobraron maior peso relativo respecto a cursos anteriores, con docencia presencial. O seguimento das distintas sesións foi, en termos xerais, sostido ao longo do cuadrimestre, e non houbo incidencias importantes na realización das probas on-line nin no funcionamento dos pequenos grupos. Porén, algúns fenómenos observados durante as sesións síncronas suxiren posíbeis anomalías no xeito de atender á sesión. Os resultados da avaliación foron máis positivos ca nas edicións presenciais da materia.

The on-line use of histogram data for high-speed correction and alignment of electron microscope images

1984 ◽  
Vol 42 ◽  
pp. 556-557
Author(s):  
William Krakow
Keyword(s):  
Power Spectrum ◽  
High Speed ◽  
Direct Memory Access ◽  
Digital Television ◽  
Contrast Transfer Function ◽  
The Past ◽  
High Resolution Tem ◽  
On Line ◽  
Correction Of Astigmatism ◽  
The Fourier Transform

In the past few years on-line digital television frame store devices coupled to computers have been employed to attempt to measure the microscope parameters of defocus and astigmatism. The ultimate goal of such tasks is to fully adjust the operating parameters of the microscope and obtain an optimum image for viewing in terms of its information content. The initial approach to this problem, for high resolution TEM imaging, was to obtain the power spectrum from the Fourier transform of an image, find the contrast transfer function oscillation maxima, and subsequently correct the image. This technique requires a fast computer, a direct memory access device and even an array processor to accomplish these tasks on limited size arrays in a few seconds per image. It is not clear that the power spectrum could be used for more than defocus correction since the correction of astigmatism is a formidable problem of pattern recognition.

Image registration with a computer driven S.T.E.M.

1978 ◽  
Vol 36 (1) ◽  
pp. 98-99
Author(s):  
A.M.H. Schepman ◽  
J.A.P. van der Voort ◽  
J.E. Mellema
Keyword(s):  
Spot Size ◽  
Scanning Transmission Electron Microscope ◽  
Small Computer ◽  
Structural Studies ◽  
Area Of Interest ◽  
Transmission Electron ◽  
Scanning Transmission ◽  
Specimen Area ◽  
On Line ◽  
Minimum Distances

A Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) was coupled to a small computer. The system (see Fig. 1) has been built using a Philips EM400, equipped with a scanning attachment and a DEC PDP11/34 computer with 34K memory. The gun (Fig. 2) consists of a continuously renewed tip of radius 0.2 to 0.4 μm of a tungsten wire heated just below its melting point by a focussed laser beam (1). On-line operation procedures were developped aiming at the reduction of the amount of radiation of the specimen area of interest, while selecting the various imaging parameters and upon registration of the information content. Whereas the theoretical limiting spot size is 0.75 nm (2), routine resolution checks showed minimum distances in the order 1.2 to 1.5 nm between corresponding intensity maxima in successive scans. This value is sufficient for structural studies of regular biological material to test the performance of STEM over high resolution CTEM.

Design and calibration of an IVEM for general 3-dimensional imaging of non-diffracting materials

1992 ◽  
Vol 50 (2) ◽  
pp. 1040-1041
Author(s):  
Neil Rowlands ◽  
Jeff Price ◽  
Michael Kersker ◽  
Seichi Suzuki ◽  
Steve Young ◽  
...  
Keyword(s):  
3D Imaging ◽  
Tomographic Reconstruction ◽  
Three Dimensional ◽  
3 Dimensional ◽  
3D Microstructure ◽  
Image Translation ◽  
Digital Correlation ◽  
On Line ◽  
Mechanical Stage ◽  
Projection Angle

Three-dimensional (3D) microstructure visualization on the electron microscope requires that the sample be tilted to different positions to collect a series of projections. This tilting should be performed rapidly for on-line stereo viewing and precisely for off-line tomographic reconstruction. Usually a projection series is collected using mechanical stage tilt alone. The stereo pairs must be viewed off-line and the 60 to 120 tomographic projections must be aligned with fiduciary markers or digital correlation methods. The delay in viewing stereo pairs and the alignment problems in tomographic reconstruction could be eliminated or improved by tilting the beam if such tilt could be accomplished without image translation.A microscope capable of beam tilt with simultaneous image shift to eliminate tilt-induced translation has been investigated for 3D imaging of thick (1 μm) biologic specimens. By tilting the beam above and through the specimen and bringing it back below the specimen, a brightfield image with a projection angle corresponding to the beam tilt angle can be recorded (Fig. 1a).

Software pattern recognition applied to nanodiffraction patterns from a STEM instrument

1986 ◽  
Vol 44 ◽  
pp. 694-695
Author(s):  
G.Y. Fan ◽  
J.M. Cowley
Keyword(s):  
Image Processing ◽  
Pattern Recognition ◽  
Computer Software ◽  
Processing System ◽  
Light Level ◽  
Host Computer ◽  
Low Light ◽  
Image Processing System ◽  
Recent Developments ◽  
On Line

In recent developments, the ASU HB5 has been modified so that the timing, positioning, and scanning of the finely focused electron probe can be entirely controlled by a host computer. This made the asynchronized handshake possible between the HB5 STEM and the image processing system which consists of host computer (PDP 11/34), DeAnza image processor (IP 5000) which is interfaced with a low-light level TV camera, array processor (AP 400) and various peripheral devices. This greatly facilitates the pattern recognition technique initiated by Monosmith and Cowley. Software called NANHB5 is under development which, instead of employing a set of photo-diodes to detect strong spots on a TV screen, uses various software techniques including on-line fast Fourier transform (FFT) to recognize patterns of greater complexity, taking advantage of the sophistication of our image processing system and the flexibility of computer software.

Thickness Measurement in the AEM by Macintosh-Based Analysis of Two-Beam Convergent Beam Patterns

1990 ◽  
Vol 48 (2) ◽  
pp. 504-505
Author(s):  
John F. Mansfield ◽  
Douglas C. Crawford
Keyword(s):  
Electron Microscope ◽  
Video Camera ◽  
Thickness Measurement ◽  
Specimen Thickness ◽  
Crystalline Materials ◽  
Beam Dynamic ◽  
Line Measurement ◽  
On Line ◽  
Image Position ◽  
Convergent Beam

A method has been developed that allows on-line measurement of the thickness of crystalline materials in the analytical electron microscope. Two-beam convergent beam electron diffraction (CBED) patterns are digitized from a JEOL 2000FX electron microscope into an Apple Macintosh II microcomputer via a Gatan #673 CCD Video Camera and an Imaging Systems Technology Video 1000 frame-capture board. It is necessary to know the lattice parameters of the sample since measurements are made of the spacing of the diffraction discs in order to calibrate the pattern. The sample thickness is calculated from measurements of the spacings of the fringes that are seen in the diffraction discs. This technique was pioneered by Kelly et al, who used the two-beam dynamic theory of MacGillavry relate the deviation parameter (Si) of the ith fringe from the exact Bragg condition to the specimen thickness (t) with the equation:Where ξg, is the extinction distance for that reflection and ni is an integer.

Recent developments in automated Transmission Electron MI

1989 ◽  
Vol 47 ◽  
pp. 46-47
Author(s):  
W.J. de Ruijter ◽  
P. Rez ◽  
David J. Smith
Keyword(s):  
Image Analysis ◽  
Computer Image ◽  
Lens Design ◽  
Computer Image Analysis ◽  
Transmission Electron ◽  
Resolution Electron ◽  
Recent Developments ◽  
On Line ◽  
Routine Procedures ◽  
Near Future

There is growing interest in the on-line use of computers in high-resolution electron n which should reduce the demands on highly skilled operators and thereby extend the r of the technique. An on-line computer could obviously perform routine procedures hand, or else facilitate automation of various restoration, reconstruction and enhan These techniques are slow and cumbersome at present because of the need for cai micrographs and off-line processing. In low resolution microscopy (most biologic; primary incentive for automation and computer image analysis is to create a instrument, with standard programmed procedures. In HREM (materials researc computer image analysis should lead to better utilization of the microscope. Instru (improved lens design and higher accelerating voltages) have improved the interpretab the level of atomic dimensions (approximately 1.6 Å) and instrumental resolutior should become feasible in the near future.

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document