Проведен анализ случаев возникновения тиристорного эффекта в СВЧ ИС, изготовленных по технологии SiGe БиКМОП, при воздействии ионизирующего излучения. Рассмотрены области СВЧ ИС, чувствительные к возникновению ТЭ, определены основные параметры тиристорных структур. Проведена апробация подхода к восстановлению параметров схемно-топологической радиационно-ориентированной модели тиристорной структуры для САПР.
The paper analyzes ionizing radiation induced latchup in microwave SiGe BiCMOS integrated circuits (ICs). Critical parts of ICs sensitive to latchup have been identified and basic parameters of corresponding parasitic thyristor structures have been determined. An approach has been approved to the thyristor structure compact model parameters extraction procedure intended for use in CAD systems.
Extraction of Mobility Degradation and Source-and-Drain Resistance in MOSFETs