DIN EN 60749-29:2012-01, Halbleiterbauelemente_- Mechanische und klimatische Prüfverfahren_- Teil_29: Latch-up-Prüfung (IEC_60749-29:2011); Deutsche Fassung EN_60749-29:2011
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2011 ◽
Vol 51
(9-11)
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pp. 1658-1661
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1991 ◽
Vol 38
(8)
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pp. 1978-1981
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Keyword(s):
1986 ◽
Vol 7
(1)
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pp. 28-31
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