scholarly journals Hệ thống lưu trữ hỗ trợ SQLite trên bộ nhớ NAND Flash

2021 ◽  
pp. 53-58
Author(s):  
Văn Phi Hồ ◽  
Phương Tâm Nguyễn ◽  
Khánh Tý Lương
Keyword(s):  
Nand Flash

Trong những năm gần đây, các thiết bị di động ngày càng phổ biến. Các thiết bị này thường sử dụng SQLite đểlàm cơ sở dữ liệu và bộ nhớ NAND Flash để lưu trữ dữ liệu. SQLite là một hệ cơ sở dữ liệu gọn nhẹ nhưng mạnh mẽ. SQLite đáp ứng đầy đủ mọi yêu cầu cơ bản của một hệ quản trị cơ sở dữ liệu. Bộ nhớ NAND Flash ngày càng phổ biến nhờ vào những ưu điểm nổi bật như tốc độ truy xuất nhanh, tiêu thụ điện năng ít, không mất dữ liệu khi mất nguồn. Do đó, việc sử dụng SQLite và NAND Flash là sự lựa chọn tốt cho thiết bị Android và iOS. Tuy nhiên, NAND Flash cũng có những nhược điểm cần khắc phục như không thể ghi đè (overwrite), vòng đời bị gới hạn bởi số lần xoá trên các khối nhớ. Bên cạnh đó, cơ chế ghi tạm file journal mỗi lần commit của SQLite cũng làm ảnh hưởng đến bộ nhớ Flash. Trước khi thực hiện cập nhật dữ liệu vào cơ sở dữ liệu, SQLite tạo một file tạm gọi là journal chứa dữ liệu cập nhật trên bộ nhớ Flash. Việc này dẫn đến rất nhiều thao tác đọc/ghi trên bộ nhớ Flash làm cho hiệu suất của hệ thống giảm đáng kể. Để giải quyết vấn đề này, chúng tôi đề xuất một hệ thống bộ nhớ lai sử dụng FRAM cho hệ thống gọi là COSS. COSS có thể giảm bớt số lượng lớn thao tác đọc/ghi lên NAND Flash và thời gian thực hiện của cả hệ thống nhờ vào khả năng ghi đè và tốc độ cao của FRAM. Kết quả thực nghiệm cho thấy COSS đạt hiệu suất cao hơn so với hệ thống nguyên thuỷ thông thường.

Novel Three Dimensional (3D) NAND Flash Memory Array Having Tied Bit-line and Ground Select Transistor (TiGer)

2012 ◽  
Vol E95.C (5) ◽  
pp. 837-841 ◽  
Author(s):  
Se Hwan PARK ◽  
Yoon KIM ◽  
Wandong KIM ◽  
Joo Yun SEO ◽  
Hyungjin KIM ◽  
...  
Keyword(s):  
Flash Memory ◽  
Three Dimensional ◽  
Nand Flash ◽  
Nand Flash Memory ◽  
Memory Array

Energy-Scalable 4KB LDPC Decoding Architecture for NAND-Flash-Based Storage Systems

2016 ◽  
Vol E99.C (2) ◽  
pp. 293-301 ◽  
Author(s):  
Youngjoo LEE ◽  
Jaehwan JUNG ◽  
In-Cheol PARK
Keyword(s):  
Storage Systems ◽  
Nand Flash ◽  
Ldpc Decoding

Realization of NAND FLASH Control Glueless Interface Circuit

2014 ◽  
Vol 1008-1009 ◽  
pp. 659-662
Author(s):  
Hai Ke Liu ◽  
Shun Wang ◽  
Xin Gna Kang ◽  
Jin Liang Wang
Keyword(s):  
Error Correction ◽  
Code Generation ◽  
Nand Flash ◽  
Timing Control ◽  
Interface Circuit ◽  
Advantages And Disadvantages ◽  
Operation Sequence ◽  
Control Interface

The article realization of NAND FLASH control glueless interface circuit based on FPGA,comparing the advantages and disadvantages of the NAND Flash and analysising the function of control interface circuit. The control interface circuit can correct carry out the SRAM timing-input block erase, page reads, page programming, state read instructions into the required operation sequence of NAND Flash, greatly simplifies the NAND FLASH read and write timing control. According to the ECC algorithm,the realization method of ECC check code generation,error search,error correction is described.The function of operate instructions of the NAND Flash control interface circuit designed in this paper is verified on Xillinx Spartan-3 board, and the frequency can reach 100MHz.

scholarly journals Artificial Neural Network Assisted Error Correction for MLC NAND Flash Memory

Micromachines ◽  
2021 ◽  
Vol 12 (8) ◽  
pp. 879
Author(s):  
Ruiquan He ◽  
Haihua Hu ◽  
Chunru Xiong ◽  
Guojun Han
Keyword(s):  
Neural Network ◽  
Error Correction ◽  
Error Detection ◽  
Flash Memory ◽  
Nand Flash ◽  
Data Reliability ◽  
Nand Flash Memory ◽  
Process Technology ◽  
Noise Mitigation ◽  
Memory Channel

The multilevel per cell technology and continued scaling down process technology significantly improves the storage density of NAND flash memory but also brings about a challenge in that data reliability degrades due to the serious noise. To ensure the data reliability, many noise mitigation technologies have been proposed. However, they only mitigate one of the noises of the NAND flash memory channel. In this paper, we consider all the main noises and present a novel neural network-assisted error correction (ANNAEC) scheme to increase the reliability of multi-level cell (MLC) NAND flash memory. To avoid using retention time as an input parameter of the neural network, we propose a relative log-likelihood ratio (LLR) to estimate the actual LLR. Then, we transform the bit detection into a clustering problem and propose to employ a neural network to learn the error characteristics of the NAND flash memory channel. Therefore, the trained neural network has optimized performances of bit error detection. Simulation results show that our proposed scheme can significantly improve the performance of the bit error detection and increase the endurance of NAND flash memory.

A Heavy-ion Beam Monitor Based on 3D NAND Flash Memories

2021 ◽  
pp. 1-1
Author(s):  
S. Gerardin ◽  
M. Bagatin ◽  
A. Paccagnella ◽  
S. Beltrami ◽  
A. Costantino ◽  
...  
Keyword(s):  
Ion Beam ◽  
Heavy Ion ◽  
Nand Flash ◽  
Flash Memories ◽  
Beam Monitor ◽  
Heavy Ion Beam

scholarly journals Investigation of Re-program Scheme in Charge Trap Based 3D NAND Flash Memory

2021 ◽  
pp. 1-1
Author(s):  
Ting Cheng ◽  
Jianquan Jia ◽  
Lei Jin ◽  
Xinlei Jia ◽  
Shiyu Xia ◽  
...  
Keyword(s):  
Flash Memory ◽  
Program Scheme ◽  
Nand Flash ◽  
Nand Flash Memory ◽  
Charge Trap
Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document