ВЛИЯНИЕ ПРЕДВАРИТЕЛЬНОГО ОБЛУЧЕНИЯ ГАММА-КВАНТАМИ НА ОДИНОЧНЫЕ СБОИ В МИКРОСХЕМАХ ПАМЯТИ, ВОЗНИКАЮЩИЕ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ НЕЙТРОНОВ ЭНЕРГИИ 14 МЭВ
Исследовано влияние предварительного облучения гамма-квантами на сечение одиночных событий (ОС) в СОЗУ при воздействии нейтронов с энергией 14 МэВ. Показано, что с увеличением уровня предварительного облучения гамма-квантами сечение ОС возрастает. Рост сечения от величины поглощенной дозы обусловлен накоплением зарядов в диэлектрических слоях интегральной микросхемы. The paper explores the influence of a preliminary gamma ray irradiation on single event upsets (SEU) in SRAM at 14 MeV neutrons influence. It has been shown that there is an increase in SEU cross section with an increase of level of preliminary irradiation by gamma rays. The increase of cross section from absorbed dose level depends on accumulation of charges in dielectric layers of integrated microcircuit.